雷達(dá)物位計由于測量精度高、耐高溫、高壓的能力強(qiáng)，以及采用非接觸的測量方式，成為過程控制物位監(jiān)測的首選儀表，是近年逐步在現(xiàn)場應(yīng)用的先進(jìn)測量技術(shù)。但在使用過程中也暴露出一些問題，主要是設(shè)計選型失誤。由于種類和品牌較多，如果在設(shè)計階段不能結(jié)合工況條件選擇適宜的產(chǎn)品，就可能造成雷達(dá)物位計無法正常使用。在選用物位儀表時，應(yīng)區(qū)別不同介質(zhì)工作條件及過程要求，選用成本低、精度高、價格適中、性能可靠的測量儀表。
1、介電常數(shù)的選擇
首先要確定被測介質(zhì)的介電常數(shù)。雷達(dá)物位計是基于發(fā)射-反射-接受的過程來實(shí)現(xiàn)物位測量的。因此被測介質(zhì)對雷達(dá)波的反射率是必須考慮的，而介質(zhì)對雷達(dá)波的反射率跟介質(zhì)的介電常數(shù)成正比。目前，主流雷達(dá)物位計要求的最低介電常數(shù)約為1.5，介電常數(shù)低于1.5的介質(zhì)不應(yīng)選用雷達(dá)物位計。對于一些剛過臨界點(diǎn)的介質(zhì)，比如一些液化石油氣的介電常數(shù)約為1.6左右，這種臨界情況下，如果選用非接觸式雷達(dá)物位計，一般采用增加一根導(dǎo)波管的方案，增強(qiáng)雷達(dá)波回波信號，即可滿足測量要求。低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測介質(zhì)，優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴(yán)重，物位波動和泡沫散射引起信號減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強(qiáng)的電磁波信號，并采用功能強(qiáng)的微處理器進(jìn)行復(fù)雜的信號處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達(dá)物位計價格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問題。導(dǎo)波雷達(dá)和常規(guī)雷達(dá)一樣，采用傳輸時間來測量介質(zhì)物位，信號自烴類[介電常數(shù)2~3]液體表面或自水[介電常數(shù)80]面反射回傳的時間一樣的，不同的只是信號幅度（強(qiáng)度）的差別。普通雷達(dá)必須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導(dǎo)波雷達(dá)僅需測量電磁波的傳輸時間即可，無需信號的處理和辨別。電磁波可以穿透空間蒸汽、粉塵等干擾源，遇到障礙物易于被反射，被測介質(zhì)導(dǎo)電性越好或介電常數(shù)越大，回波信號的反射效果越好。
2、量程的合理選擇
在選用雷達(dá)物位計時，往往有一種錯誤看法，認(rèn)為選用的量程只要大于槽罐的高度就行。事實(shí)上，雷達(dá)物位計上標(biāo)識的量程可能是它的最大量程，選型時還要看容器的特性，如貯罐表面平穩(wěn)還是有波紋，甚至有攪拌。同一型號的雷達(dá)料位計在不同情況下所能測量的實(shí)際料位有很大差別。某型號雷達(dá)，量程是20m，只是表面平穩(wěn)液體可以測量20m，如用在無攪拌有波紋的緩沖罐上，就只能測量10m。用其測量十幾米的帶有攪拌的料位時，經(jīng)常測量不到低料位，這實(shí)際是選型量程不夠，增加量程后問題得到解決。
嘉可自動化儀表采用國際先進(jìn)技術(shù)，結(jié)合市場需求，相繼研發(fā)出6.3G雷達(dá)物位計、導(dǎo)波雷達(dá)物位計、26G高頻雷達(dá)物位計、26G高頻雷達(dá)水位計、物位開關(guān)等系列產(chǎn)品。產(chǎn)品廣泛服務(wù)于水處理、石油、化工、冶金、紡織、機(jī)械、供熱、供電、供水、科研、環(huán)境及環(huán)保工程等眾多行業(yè)。
